bsuirДоклады БГУИРDoklady BGUIR1729-76482708-0382БГУИРbsuir-261Research ArticleСтатьиЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ СВОЙСТВА ТОНКИХ ПЛЕНОК ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ТВЕРДЫХ РАСТВОРОВ (CuInSe2)x-(2ZnSe)1-xElectrical properties of thin films of semiconductor solid solutions (CuInSe2)x-(2ZnSe)1-xЦырельчукИ. Н.TsyrelchukI. N.noemail@neicon.ruХорошкоВ. В.KhoroshkoV. V.noemail@neicon.ruГременокВ. Ф.GremenokV. F.noemail@neicon.ruИвановВ. А.IvanovV. A.noemail@neicon.ruБелорусский государственный университет информатики и радиоэлектроникиBelarusГНПО «Научно-практический центр НАН Беларуси по материаловедению»Belarus2013030620190895100Copyright © Цырельчук И.Н., Хорошко В.В., Гременок В.Ф., Иванов В.А., 20192019Цырельчук И.Н., Хорошко В.В., Гременок В.Ф., Иванов В.А.Tsyrelchuk I.N., Khoroshko V.V., Gremenok V.F., Ivanov V.A.Данная работа распространяется под лицензией Creative Commons Attribution 4.0.This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 License.https://doklady.bsuir.by/jour/article/view/261

Проведено исследование зависимостей удельного сопротивления и термоэдс пленок Cu(In,Zn)Se2 от элементного состава и температуры. Температурные зависимости удельного сопротивления были измерены в температурном интервале Т = 80…420 К. Термоэлектрические свойства пленок исследовались при комнатной температуре с разницей температур между «горячим» и «холодным» концами зондов ∆ Т = 30 К. Исследованы зависимости удельного сопротивления и коэффициентов термоэдс пленок от концентрации атомов Zn и взаимосвязь между коэффициентом термоэдс пленок и их удельным сопротивлением.

Dependences of resistivity and thermal e.m.f. of the Cu(In,Zn)Se2 films on the phase composition and temperature were studied. The temperature dependence of the resistivity in the temperature range of T = 8…420 K were measured. The dependence of films resistivity and their thermal e.m.f. coefficient on the concentration of Zn atoms and the correlation between films thermal e.m.f. coefficient and their resistivity were investigated.

тонкие пленкиудельное сопротивлениетермоэдсReferencesWard J.S., Ramanathan K., Hasoon F.S. et. al. // Prog. Photovolt. Res. Appl. 2002. Vol. 10. P. 41-46.Ward J.S., Ramanathan K., Hasoon F.S. et. al. // Prog. Photovolt. Res. Appl. 2002. Vol. 10. P. 41-46.Free Solar Panel Price Survey//CivicSolar Corpotation [Электронный ресурс]. - Режим доступа: http://www.civicsolar.com/products/solar-panels/?solrsort=fs_price_watt_break_ 1_0%20asc. - Дата доступа: 02.10.2013Free Solar Panel Price Survey//CivicSolar Corpotation [Электронный ресурс]. - Режим доступа: http://www.civicsolar.com/products/solar-panels/?solrsort=fs_price_watt_break_ 1_0%20asc. - Дата доступа: 02.10.2013Datasheet // Stion Corporation [Электронный ресурс]. - Режим доступа: http://www.stion.com/ wp-content/uploads/2013/02/300-003-000-Rev-B_Product-Data-Sheet-STN-Module-125-140-1.pdf. Дата доступа: 02.10.2013.Datasheet // Stion Corporation [Электронный ресурс]. - Режим доступа: http://www.stion.com/ wp-content/uploads/2013/02/300-003-000-Rev-B_Product-Data-Sheet-STN-Module-125-140-1.pdf. Дата доступа: 02.10.2013.MetallMarket// Metall Pages [Электронный ресурс]. - Режим доступа: http://www.metal-pages.com/metalprices/indium/. - Дата доступа: 02.10.2013.MetallMarket// Metall Pages [Электронный ресурс]. - Режим доступа: http://www.metal-pages.com/metalprices/indium/. - Дата доступа: 02.10.2013.MetallMarket// Metall Pages [Электронный ресурс]. -Режим доступа: http://www.metal-pages.com/metalprices/gallium/. - Дата доступа: 02.10.2013.MetallMarket// Metall Pages [Электронный ресурс]. -Режим доступа: http://www.metal-pages.com/metalprices/gallium/. - Дата доступа: 02.10.2013.Цырельчук И.Н., Хорошко В.В., Гременок В.Ф. и др. // Проблемы физики, математики и техники. 2013. №1 (14) С. 33-36.Цырельчук И.Н., Хорошко В.В., Гременок В.Ф. и др. // Проблемы физики, математики и техники. 2013. №1 (14) С. 33-36.Уральский промышленный форум// Pulscenp [Электронный ресурс] - Режим доступа: http://msk.pulscen.ru/products/tsink_zn_khimicheski_chisty_khch_12418364. - Дата доступа: 02.10.2013.Уральский промышленный форум// Pulscenp [Электронный ресурс] - Режим доступа: http://msk.pulscen.ru/products/tsink_zn_khimicheski_chisty_khch_12418364. - Дата доступа: 02.10.2013.Поклонский Н.А. Четырехзондовый метод измерения электрического сопротивления полупроводниковых материалов. Минск, 1998.Поклонский Н.А. Четырехзондовый метод измерения электрического сопротивления полупроводниковых материалов. Минск, 1998.Иванов В.А., Гременок В.Ф., Зарецкая Е.П. и др. // Труды междунар. науч. конф. «Актуальные проблемы физики твердого тела». Минск, 23-26 октября 2007 г. С. 24-26.Иванов В.А., Гременок В.Ф., Зарецкая Е.П. и др. // Труды междунар. науч. конф. «Актуальные проблемы физики твердого тела». Минск, 23-26 октября 2007 г. С. 24-26.Schaffler R., Klose M., Brieder M. et.al // Material Science Forum. 1995. Vols. 173-174. P. 135-140.Schaffler R., Klose M., Brieder M. et.al // Material Science Forum. 1995. Vols. 173-174. P. 135-140.

The authors declare that there are no conflicts of interest present.