bsuirДоклады БГУИРDoklady BGUIR1729-76482708-0382БГУИРbsuir-216Research ArticleСтатьиМЕТОДИКА ИНДИВИДУАЛЬНОГО ПРОГНОЗИРОВАНИЯ ПОСТЕПЕННЫХ ОТКАЗОВ ИЗДЕЛИЙ ЭЛЕКТРОННОЙ ТЕХНИКИ МЕТОДОМ ИМИТАЦИОННЫХ ВОЗДЕЙСТВИЙFORECASTING METHOD OF INDIVIDUAL Phasing of electronic products by simulation IMPACTSБоровиковС. М.BaravikouS. M.noemail@neicon.ruБелорусский государственный университет информатики и радиоэлектроникиBelarus201303062019061218Copyright © Боровиков С.М., 20192019Боровиков С.М.Baravikou S.M.Данная работа распространяется под лицензией Creative Commons Attribution 4.0.This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 License.https://doklady.bsuir.by/jour/article/view/216

Систематизирован метод имитационных воздействий в применении к индивидуальному прогнозированию постепенных отказов изделий электронной техники. На основе метода разработана методика прогнозирования постепенных отказов биполярных транзисторов. Она позволяет по реакции функционального параметра конкретного экземпляра (транзистора) на имитационное воздействие в начальный момент времени спрогнозировать значение параметра для заданной будущей наработки и принять решение о надежности этого экземпляра по постепенному отказу для этой наработки.

The systematization of the method of simulation effects applied to individual forecasting gradual failures of electronic equipment is carried out. The method used to develop a method for predicting gradual failures of bipolar transistors. It allows the reaction of the functional parameter specific instance (transistor) on the impact of simulation at the initial time to predict the value for a given future developments and decide on the reliability of this instance of the phase-out of use for this.

изделия электронной техникибиполярные транзисторыметод имитационных воздействийиндивидуальное прогнозирование значений параметрапрогнозирование постепенных отказовReferencesСынаров В.Ф., Пивоварова Р.П., Петров Б.К. и др. Физические основы надежности интегральных схем. М., 1976.Сынаров В.Ф., Пивоварова Р.П., Петров Б.К. и др. Физические основы надежности интегральных схем. М., 1976.Боровиков С.М., Цырельчук И.Н., Шнейдеров Е.Н. и др. Прогнозирование надежности изделий электронной техники. Минск, 2010.Боровиков С.М., Цырельчук И.Н., Шнейдеров Е.Н. и др. Прогнозирование надежности изделий электронной техники. Минск, 2010.Боровиков С.М., Шалак А.В., Бересневич А.И. и др. // Докл. НАН Беларуси. 2007. Т. 51, № 6. С. 105-109.Боровиков С.М., Шалак А.В., Бересневич А.И. и др. // Докл. НАН Беларуси. 2007. Т. 51, № 6. С. 105-109.European Organization of the Quality Control Glassary. Bern, 1988.European Organization of the Quality Control Glassary. Bern, 1988.Боровиков С.М., Щерба А. И. // Информационные технологии в проектировании и производстве. 2004. № 4. С. 37-40.Боровиков С.М., Щерба А. И. // Информационные технологии в проектировании и производстве. 2004. № 4. С. 37-40.Боровиков С.М., Щерба А.И. // Докл. БГУИР. 2003. Т.1, № 2. С. 113-117.Боровиков С.М., Щерба А.И. // Докл. БГУИР. 2003. Т.1, № 2. С. 113-117.Manual. Quality and Reliability. Philosophy and Procedures. AN-RQC-REP013V20 / NEC Electronics (Europe) GmbH, 1993.Manual. Quality and Reliability. Philosophy and Procedures. AN-RQC-REP013V20 / NEC Electronics (Europe) GmbH, 1993.Quick Logic Reliability Report / рASIC, Vialink and Quick Logic Corp. Orleans, 1998.Quick Logic Reliability Report / рASIC, Vialink and Quick Logic Corp. Orleans, 1998.Bipolar Power Transistors Data Book 1998 / TEMIC Semiconductor GmbH. DGT-005-1297, 1997.Bipolar Power Transistors Data Book 1998 / TEMIC Semiconductor GmbH. DGT-005-1297, 1997.Боровиков С.М., Бересневич А.И., Шалак А.В. // Докл. БГУИР. 2006. № 3 (15). С. 12-17.Боровиков С.М., Бересневич А.И., Шалак А.В. // Докл. БГУИР. 2006. № 3 (15). С. 12-17.

The authors declare that there are no conflicts of interest present.